YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
内容简介
行业标准《X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量》由全国有色金属标准化技术委员会归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了氢氧化铝中SiO、FeO、NaO含量的测定方法。本标准适用于氢氧化铝中SiO、FeO、NaO含量的测定。
起草单位
中国铝业有限公司广西分公司、中国铝业有限公司郑州研究院等、
起草人
秦文忠、邓文军、
相近标准
20191297-T-607X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量GB/T40915-2021X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量YS/T703-2009X射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO、SiO2含量20082135-T-610氢氧化铝GB/T4294-2010氢氧化铝GB/T4294-1997氢氧化铝X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K20、Na20、CaO、MgO含量YS/T469-2004氧化铝、氢氧化铝白度测定方法SN/T2780-2011氧化铝中铅、镉、铬的测定波长色散X射线荧光光谱法HG/T4530-2013氢氧化铝阻燃剂
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!
-
现行
-
现行
-
现行
-
现行
-
现行