当前位置:主页行业标准

YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法

YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法

YS/T 23-2016

行业标准-有色金属推荐性

标准详情

  • 标准名称:硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
  • 标准号:YS/T 23-2016
    中国标准分类号:H21
  • 发布日期:2016-04-05
    国际标准分类号:77.040
  • 实施日期:2016-09-01
    技术归口:
  • 代替标准:YS/T 23-1992
    批准发布部门:工业和信息化部
  • 标准分类:冶金有色金属金属材料试验制造业

内容简介

行业标准《硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法》,主管部门为工业和信息化部。

起草单位

起草人

相近标准

YS/T23-1992硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法YS/T15-2015硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法YS/T15-1991硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法20021942-T-610砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法GB/T8758-2006砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法GB/T8758-1988砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法碳化硅外延层厚度的测试红外反射法20204893-T-469碳化硅外延层厚度的测试红外反射法YS/T14-2015异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法YS/T14-1991导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!

相关推荐