SJ/T 11583-2016 电子陶瓷及其封接气密性测试方法
内容简介
行业标准《电子陶瓷及其封接气密性测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了电子陶瓷材料、已金属化的待封接电子陶瓷或已封接的电真空陶瓷管制品的封接气密性测试原理、测试装置以及测试步骤等内容。
起草单位
湖南省新化县鑫星电子陶瓷有限责任公司、国家电子陶瓷质量监督检验中心、中国电子材料行业协会真空电子与专用金属材料分会、
起草人
曹培福、高陇桥、曹建平、
相近标准
GB/T5594.1-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法GB/T9530-1988电子陶瓷名词术语GB/T13841-1992电子陶瓷件表面粗糙度20101408-T-469气瓶气密性试验方法GB/T12137-2002气瓶气密性试验方法GB/T12137-2015气瓶气密性试验方法GB/T9531.1-1988电子陶瓷零件技术条件GB/T15154-1994电子陶瓷用氧化铝粉体材料粮油储藏粮仓气密性要求HG/T5722-2020橡胶气密性检测仪
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