ASTM E2382-2004(2012) 标准详情
- 标准号：ASTM E2382-2004(2012)
- 中文标题：扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
- 英文标题：Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：2004
ASTM E2382-2004(2012) 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
内容简介
4. Significance and UseTop Bottom 4.1 This compilation is limited to artifacts observed in scanning tunneling microscopes and contact-mode atomic force microscopes. In particular, this document focuses on artifacts related to probe motion and ge
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