ASTM F1212-1989(2002) 标准详情
- 标准号:ASTM F1212-1989(2002)
- 中文标题:砷化镓晶片热稳定性的试验方法
- 英文标题:Standard Test Method for Thermal Stability Testing of Gallium Arsenide Wafers
- 标准类别:美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期:1989
1.1 This destructive test method determines whether a given sample of semi-insulating gallium arsenide (GaAs) will remain semi-insulating after exposure to the high temperatures normally required for the activation of implanted layers. 1.2 The under
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