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ASTM F1388-92 对于产生寿命和硅材料的产生速度由金属 - 氧化物 - 硅( MOS )电容器电容进行实时测量的标准测试方法

ASTM F1388-92 对于产生寿命和硅材料的产生速度由金属 - 氧化物 - 硅( MOS )电容器电容进行实时测量的标准测试方法

ASTM F1388-92 标准详情

  • 标准号:ASTM F1388-92
  • 中文标题:对于产生寿命和硅材料的产生速度由金属 - 氧化物 - 硅( MOS )电容器电容进行实时测量的标准测试方法
  • 英文标题:Standard Test Method for Generation Lifetime and Generation Velocity of Silicon Material by Capacitance-Time Measurements of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Capacitors
  • 标准类别:美国材料与试验协会ASTM
  • 发布日期:

内容简介

CONTAINED IN VOL. 10.05, 2001Covers the measurement of generation velocity and generation lifetime of silicon wafers. May be applied to insulators other than silicon dioxide and to semiconductor materials other than silicon, but the details of capaci

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