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GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法

GB/T 30118-2013 声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods

GB/T 30118-2013

国家标准推荐性

标准详情

  • 标准名称:声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法
  • 标准号:GB/T 30118-2013
    中国标准分类号:L21
  • 发布日期:2013-12-17
    国际标准分类号:31.140
  • 实施日期:2014-05-15
    技术归口:全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
  • 代替标准:
    批准发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学频率控制和选择用压电器件与介质器件

内容简介

国家标准《声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法》由TC182(全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位

中国电子科技集团公司第二十六研究所、北京石晶光电科技有限公司、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、

起草人

张小梅、蒋春键、赵雄章、周洋舟、吴兆刚、吴剑波、

相近标准

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