当前位置:主页国家标准

GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语

GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary

GB/T 23414-2009

国家标准推荐性

标准详情

  • 标准名称:微束分析 扫描电子显微术 术语
  • 标准号:GB/T 23414-2009
    中国标准分类号:N33
  • 发布日期:2009-04-01
    国际标准分类号:37.02001.040.37
  • 实施日期:2009-12-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:
    批准发布部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:综合标准化术语学文献词汇成像技术光学设备成像技术(词汇)

内容简介

国家标准《微束分析 扫描电子显微术 术语》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

起草单位

中国科学院上海硅酸盐研究所、

起草人

李香庭、曾毅、

相近标准

20067089-T-469微束分析扫描电子显微术术语GB/T33834-2017微束分析扫描电子显微术生物试样扫描电子显微镜分析方法20131706-T-469微束分析扫描电子显微术生物试样扫描电子显微镜分析方法20131707-T-469微束分析扫描电子显微术图像锐度评估方法GB/T33838-2017微束分析扫描电子显微术图像锐度评估方法微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法微束分析分析电子显微学术语20193203-T-469微束分析分析电子显微学术语GB/T40300-2021微束分析分析电子显微学术语

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!

相关推荐