GB/T 11685-1989 半导体x射线能谱仪的测试方法
test procedures for semiconductor x-ray energy spectrometers
内容简介
本标准规定了半导体X射线能谱仪的主要测试方法,并对有关的术语作了说明。 本标准适用于由半导体探测器、前置放大器、放大器、脉冲幅度分析器、计算机组成的半导体X射线能谱仪。但是脉冲幅度分析器和计算机的测试方法不包括在本标准内。
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