GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分:电离辐照(总剂量)》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、西北核技术研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、
起草人
席善斌、彭浩、陈伟、林东生、崔波、陈海蓉、郭旗、陆妩、何宝平、金晓明、
相近标准
半导体器件-机械和气候试验方法-第18部分:电离辐照(总剂量)20151498-T-339半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐照(总剂量)GB/T4937-1995半导体器件机械和气候试验方法半导体器件-机械和气候试验方法-第17部分:中子辐照20151499-T-339半导体器件机械和气候试验方法第17部分:中子辐照GB/T4937.17-2018半导体器件机械和气候试验方法第17部分:中子辐照半导体器件机械和气候试验方法第38部分:半导体器件的软错误试验方法半导体器件机械和气候试验方法第8部分:密封GB/T4937.21-2018半导体器件机械和气候试验方法第21部分:可焊性GB/T4937.1-2006半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!