GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
内容简介
国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位
核工业标准化研究所、
起草人
相近标准
20030762-T-469半导体探测器X射线能谱仪通则GB/T20726-2006半导体探测器X射线能谱仪通则20101268-T-307带电粒子半导体探测器测量方法GB/T5201-2012带电粒子半导体探测器测量方法20061774-T-307硅（锂）X射线探测器系统GB/T13179-1991硅(锂)X射线探测器系统GB/T13179-2008硅（锂）X射线探测器系统GB/T5201-1994带电粒子半导体探测器测试方法20075691-T-469X射线光电子能谱仪检定方法GB/T25184-2010X射线光电子能谱仪检定方法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请及时联系我们！