NBN EN 60749-33-2005 标准详情
- 标准号：NBN EN 60749-33-2005
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第33部分：加速耐湿性 - 偏高压灭菌器
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 33: Accelerated Moisture Resistance - Unbiased Autoclave
- 标准类别：比利时标准NBN
- 发布日期：
NBN EN 60749-33-2005 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第33部分：加速耐湿性 - 偏高压灭菌器
内容简介
Evaluates the moisture resistance integrity of non-hermetically packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments.
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