LST EN 60749-38-2008 标准详情
- 标准号:LST EN 60749-38-2008
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第38部分:半导体器件软错误测试方法与内存( IEC 60749-38 : 2008)
- 英文标题:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008)
- 标准类别:立陶宛标准LST
- 发布日期:2008-10-31