NBN EN 60749-29-2005 标准详情
- 标准号:NBN EN 60749-29-2005
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第29部分:闩锁测试
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 29: Latch-up Test
- 标准类别:比利时标准NBN
- 发布日期:
Specifies the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. It establishes a method for determining integrated circuit latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria.
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