GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors
内容简介
国家标准《带电粒子半导体探测器测试方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
起草单位
北京核仪器厂、
起草人
相近标准
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