标准详情
- 标准名称：ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
- 标准号：SJ/T 2354-2015
- 中国标准分类号：L54
- 发布日期：2015-04-30
- 国际标准分类号：31.180
- 实施日期：2015-10-01
- 技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
- 代替标准：SJ/T 2354.1～ 2354.14-1983
- 批准发布部门：工业和信息化部
- 标准分类：电子学电子印制电路和印制电路板
SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
内容简介
行业标准《ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。
起草单位
中电子科技集团公第四十四研究所、
起草人
郭萍、崔大键、王波、
相近标准
YD/T0835-1996雪崩光电二极管检测方法SJ/T2214-2015半导体光电二极管和光电晶体管测试方法SJ/T2216-2015硅光电二极管技术规范20074912-T-307闪烁探测器用光电二极管试验方法GB/T23729-2009闪烁探测器用光电二极管试验方法半导体器件-第5-7部分：光电子器件—光电二极管和光电晶体管20201526-T-339半导体器件-第5-7部分：光电子器件—光电二极管和光电晶体管GB/T18904.5-2003半导体器件第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范JB/T7624-1994整流二极管测试方法JB/T7624-2013整流二极管测试方法
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