KS C IEC 60749-7-2004 标准详情
- 标准号:KS C IEC 60749-7-2004
- 中文标题:半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部含水量的测量
- 英文标题:Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 7:Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
- 标准类别:韩国KS
- 发布日期: