DIN EN 60749 标准详情
- 标准号:DIN EN 60749
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods
- 标准类别:德国标准DIN
- 发布日期:
Defines test methods to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Additional test methods may be required for non-cavity devices.
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