IEC/PAS 62162-2000 微电子元件.抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
IEC/PAS 62162-2000 标准详情
- 标准号:IEC/PAS 62162-2000
- 中文标题:微电子元件.抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法
- 英文标题:field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components edition 1.0
- 标准类别:国际电工委员会标准
- 发布日期:2000-08-01
内容简介
DESCRIBES A UNIFORM METHOD FOR ESTABLISHING CHARGED-DEVICE MODEL (CDM) ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) WITHSTAND THRESHOLDS. ALL PACKAGES SEMICONDUCTOR COMPONENTS, THIN FILM CIRCUITS, SURFACE ACOUSTIC WAVE (SAW) COMPONENTS, OPTO-ELECTRONIC COMPONENTS,
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