UNE EN 60749-8-2004 标准详情
- 标准号:UNE EN 60749-8-2004
- 中文标题:
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 8: Sealing
- 标准类别:西班牙国家标准UNE
- 发布日期:
Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.
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