OVE/ONORM EN 60749-4-2003 标准详情
- 标准号:OVE/ONORM EN 60749-4-2003
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第4部分:湿热,稳态,高加速应力测试( HAST )
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (hast)
- 标准类别:奥地利国家标准ONORM
- 发布日期: