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GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照

GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation

GB/T 4937.17-2018

国家标准推荐性

标准详情

  • 标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照
  • 标准号:GB/T 4937.17-2018
    中国标准分类号:L40
  • 发布日期:2018-09-17
    国际标准分类号:31.080.01
  • 实施日期:2019-01-01
    技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
  • 代替标准:
    批准发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、西北核技术研究所、

起草人

席善斌、彭浩、杨善潮、金晓明、崔波、陈海蓉、陈伟、林东生、郭旗、陆妩、

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