GB/T 6570-1986 微波二极管测试方法
Measuring methods for microwave diodes
内容简介
国家标准《微波二极管测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位
电子部25所、
起草人
相近标准
JB/T7624-1994整流二极管测试方法JB/T7624-2013整流二极管测试方法SJ/T11767-2020二极管低频噪声参数测试方法SJ/T11471-2014发光二极管外延片测试方法SJ/T2354-2015ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法SJ/T2749-2016半导体激光二极管测试方法SJ/T11394-2009半导体发光二极管测试方法发光二极管模块热特性瞬态测试方法20151774-T-339发光二极管模块热特性瞬态测试方法GB/T38621-2020发光二极管模块热特性瞬态测试方法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请及时联系我们！