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DLA SMD-5962-88533 REV C-1994 硅单片误差检测与校正的单位互补型金属氧化物半导体数字微电路

DLA SMD-5962-88533 REV C-1994 硅单片误差检测与校正的单位互补型金属氧化物半导体数字微电路

DLA SMD-5962-88533 REV C-1994 标准详情

  • 标准号:DLA SMD-5962-88533 REV C-1994
  • 中文标题:硅单片误差检测与校正的单位互补型金属氧化物半导体数字微电路
  • 英文标题:MICROCIRCUIT, DIGITAL, CMOS, ERROR DETECTION AND CORRECTION UNIT, MONOLITHIC SILICON
  • 标准类别:美国国防部后勤局标准DLA
  • 发布日期:1994-04-20

内容简介

a.T his drawing describes device rwirernents for class B microcircuits in accordance with 1.2.1 of1.2 Part or Identifvins Nunber (PINl.o1MIL-STD-883, "Provisions for the use of MIL-STD-883 in conjunction with compliant non-JAN deviceso8.

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