IEC 60749-23 Ed. 1.0 标准详情
- 标准号：IEC 60749-23 Ed. 1.0
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC 60749-23 Ed. 1.0
内容简介
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitori
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