标准详情
- 标准名称：半导体器件基准测试方法
- 标准号：GB 6801-1986
- 中国标准分类号：11Q
- 发布日期：1986-08-28
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1987-07-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 批准发布部门：
- 标准分类：半导体分立器件电子元器件与信息技术半导体分立器件综合
GB 6801-1986 半导体器件基准测试方法
reference methods of measurement for semiconductor devices
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