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DS/EN ISO 12179-2000 产品几何技术规范(GPS ) - 表面结构:轮廓法 - 接触(手写笔)仪器的校准

DS/EN ISO 12179-2000 产品几何技术规范(GPS ) - 表面结构:轮廓法 - 接触(手写笔)仪器的校准

DS/EN ISO 12179-2000 标准详情

  • 标准号:DS/EN ISO 12179-2000
  • 中文标题:产品几何技术规范(GPS ) - 表面结构:轮廓法 - 接触(手写笔)仪器的校准
  • 英文标题:Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments
  • 标准类别:丹麦DANSK
  • 发布日期:2000-11-08

内容简介

This International Standard applies to to the calibration of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274.

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