SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 ｘ射线荧光光谱法
内容简介
本标准规定了用X射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量,也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。
起草单位
中国华晶电子集团公司等单位
起草人
全庆霄、赵长春、顺兴生等
相近标准
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