标准详情
- 标准名称：化合物半导体单晶晶向x射线衍射测量方法
- 标准号：GB/T 8759-1988
- 中国标准分类号：8Q
- 发布日期：1988-02-25
- 国际标准分类号：
- 实施日期：1989-07-01
- 技术归口：
- 代替标准：
- 批准发布部门：
- 标准分类：冶金金属理化性能试验方法金属物理性能试验方法
GB/T 8759-1988 化合物半导体单晶晶向x射线衍射测量方法
compound semiconductive single crystals--determination of crzystallographic orientation--x-ray diffraction method
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