EIA JEP 121-2006 标准详情
- 标准号:EIA JEP 121-2006
- 中文标题:要求对于微电子筛选和测试优化
- 英文标题:Requirements For Microelectronic Screening And Test Optimization
- 标准类别:美国电子工业协会EIA
- 发布日期:
Establishes uniform guidelines, which would allow the use of In-Line Process Controls and Statistical Process Control as viable alternatives to the 100% screens.
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