EIA JEP 122-2006 标准详情
- 标准号：EIA JEP 122-2006
- 中文标题：失效机理和模型硅半导体器件
- 英文标题：Failure Mechanisms And Models For Silicon Semiconductor Devices
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JEP 122-2006 失效机理和模型硅半导体器件
内容简介
Provides a list of failure mechanisms and their associated activation energies or acceleration factors that may be used in making system failure rate estimations when the only available data is based on tests performed at accelerated stress test cond
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：