标准详情
- 标准名称：X射线晶体定向仪 技术条件
- 标准号：JB/T 5482-2004
- 中国标准分类号：N33
- 发布日期：2004-06-17
- 国际标准分类号：17.180.99
- 实施日期：2004-11-01
- 技术归口：北京分析仪器研究所
- 代替标准：JB/T 5482-1991
- 批准发布部门：国家发展和改革委员会
- 标准分类：物理现象计量学和测量光学和光学测量机械有关光学和光学测量的其他标准
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件
内容简介
行业标准《X射线晶体定向仪 技术条件》由北京分析仪器研究所归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。
起草单位
丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等、
起草人
赵久、刘海燕、
相近标准
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