GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals
内容简介
国家标准《微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1X1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
起草单位
首钢集团有限公司、国标（北京）检验认证有限公司、
起草人
孟杨、鞠新华、马通达、崔桂彬、王泽鹏、王雅晴、朱国森、付新、史学星、闫贺、严春莲、
相近标准
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