标准详情
- 标准名称:磁随机存储器件数据保持时间测试方法
- 标准号:T/CIE 133-2022
- 中国标准分类号:/I6520
- 发布日期:2022-08-10
- 国际标准分类号:31.200
- 实施日期:2022-08-10
- 团体名称:中国电子学会
- 标准分类:集成电路设计
本标准给出了磁随机存储(MagneticRandomAccessMemory;MRAM)器件数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储器件的数据保持时间测试和磁随机存储器件的数据保持时间验证。
北京航空航天大学、致真存储(北京)科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司。
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