T/CASAS 018-2021 微纳米金属烧结连接件 剪切强度试验方法
内容简介
本文件规定了微纳米金属烧结连接件剪切强度的测试方法
本文件适用于微纳米金属烧结连接件剪切强度的测定和失效模式判定(如果出现失效),用于微纳米金属材料的测试评价及相关领域的从业者
金属互连材料在半导体封装工业中占据关键地位。传统封装采用焊料合金互连,但其析出的金属间化合物导致互连层服役温度较低且脆性较高。作为最适合于第三代半导体模块封装的界面连接技术之一,以微纳米银、微纳米铜为代表的新型微纳米金属烧结互连技术具有组分单一、低工艺温度、高服役温度的优点,而且芯片连接件的可靠性也可以得到大幅提升。剪切强度作为微纳米金属烧结件主要的性能指标之一,其测试方法广受关注。因微纳米金属烧结技术尚属技术推广阶段,业内尚未针对使用该技术制备的烧结件制定专门的的剪切强度测试方法标准。传统焊料剪切强度较低,其测试方法标准和强度判定规则不再适用。同时,因行业内各单位的测试仪器型号不同,样品规格、测试条件、操作步骤等条件也各有不同,这使得产业内从业人员无法在统一的条件下比较微纳米金属烧结件的剪切强度性能。希望借此标准的制定,有效规范行业内测试方法,使得各测试参数可有效比对,助力微纳金属烧结技术的产业化发展。
起草单位
北京半导体照明科技促进中心、南方科技大学、有研粉末新材料股份有限公司、北京康普锡威科技有限公司、上海贺利氏工业技术材料有限公司、国家纳米科学中心、哈尔滨理工大学、香港应用科技研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国科学院微电子研究所、深圳基本半导体有限公司、复旦大学、广东工业大学、西安交通大学、重庆大学、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟、BOSCHMAN TECHNOLOGY
起草人
张国旗,叶怀宇、刘旭、张靖、张敬国、赵朝晖、梁明会、刘洋、谢斌、王可、周斌、刘盼、樊嘉杰、张凯、王来利、唐宏浩、田天成、赵璐冰、高伟
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